走査プローブ顕微鏡(Scanning Probe Microscope : SPM)　“大気SPM”(D3)

SPM

  • Bruker Nano MultiMode + halcyonic nano20

走査トンネル顕微鏡(STM), 原子間力顕微鏡(AFM)の両方の測定が可能で、試料や用途に応じて両者を使い分けています。除振にアクティブ除振台を用いています。







電気化学走査トンネル顕微鏡（Electrochemical Scanning Tunneling Microscope : EC-STM）　"電気化学STM"（D3）

EC-STM

  • Bruker Nano MultiMode + Bruker ECM-3

電解液中、電位印加時の表面観察、すなわち電気化学環境におけるSTMです。電位変動下におけるナノ微粒子の形態観察などに用います。






一体型走査トンネル顕微鏡（Scanning Tunneling Microscope : STM）　"NaioSTM"（A406）

Naio

  • Nanosurf : NaioSTM

カーボン基板上に堆積した金属・合金ナノ微粒子の観察に用います。






ガスクロマトグラフ(Gas Chromatograph : GC)　“ガスクロ”(A406)

GC

  • Shimazu GC-2014 + Toho Technical Research PS-14
  • Detector:TCD & FID

電解還元反応生成物分析に利用しています。






グローブボックス＋電気化学測定システム　“グローブボックス”(A406)

EC


超高真空中で作製したモデル電極触媒を大気暴露せずグローブボックスに搬送し、グローブボックス内の回転ディスク（RDE)などにより構造制御された最表面構造の電気化学特性、電極触媒特性評価に使用しています。